西安一成依托在涂布行业30年的深厚积淀，深度融合材料物理特性与先进传感技术，成功攻克X射线测厚核心技术难题。通过构建高精度衰减数学模型、优化自适应信号分析算法，自主研发新一代X射线智能测厚仪，实现非接触式厚度测量的突破性创新。

X射线智能测厚仪（YC-1-XCH）

该设备以微米级精度、毫秒级响应速度，极简的操作流程，极高的自动化程度，多材质兼容性为核心优势，助力客户提升良品率、降低生产成本。目前已实现应用，以自主可控的技术能力持续赋能智能制造升级。

本产品利用X射线穿透物质时的吸收反散射效应实现非接触式测量。X射线穿透材料时会发生衰减，衰减程度与材料的厚度、密度及成分相关（遵循朗伯-比尔定律）。通过检测穿透后的X射线强度，结合已知材料参数，可计算出被测物体的厚度和克重。

X射线智能测厚仪原理

本产品利用低辐射 SOFT-XRAY技术。无需办理专用许可证等手续。

X射线智能测厚仪参数

智能测厚仪功能优势

一、高精度的测量，毫秒级响应速度，友好的人机界面，多维度的测量结果

1、一成X射线智能测厚仪，实现微米级高精度检测，毫秒级的响应速度，同步实时检测涂层厚度变化；设备配备智能化人机交互界面，数据可视化呈现清晰直观，历史涂层情况，一键可查。

2、一成X射线智能测厚仪，可实现厚度/克重/密度/水分的同时测量。

二、首创在线AI自动标定技术，操作流程极简化，减轻现场人员负担

一成X射线智能测厚仪首创在线AI自动标定技术，支持产线不间断运行状态下快速完成校准，通过自适应校准算法与实时数据闭环反馈，标定过程全自动执行，无需人工干预。

三、极高的自动化程度，与一成涂布头联动，通过自研的算法，实现涂布间隙自动调整

该测厚仪深度融合自动化系统，通过高速数据接口与涂布头实时联动，在线采集的厚度信号经自适应滤波算法处理后，毫秒级反馈至涂布控制单元。基于自主研发的动态补偿模型，精准调节涂布间隙核心参数，实现涂布厚度的自动跟踪与闭环控制。

四、多材质兼容性，全场景适配能力

该测厚仪基于多模态传感融合算法与宽谱X射线检测技术，突破传统光学检测对基材材质、表面颜色及环境光的敏感性限制，测量结果不受上述因素影响，可精准适配各类材质涂布的复杂工况，真正实现跨行业涂布场景的“一机覆盖”，大幅降低多品类生产线的设备投入与调试成本。

项目进度安排